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1134B用于對嵌入式設計進行高速差分或單端探測。

憑借出色的電纜長度（5 米）和 50:1 衰減比，可提供優異的差分信號測量。

可執行最高 ±7000 V 差分電壓和共模電壓的浮置信號測量。

可執行最高 700 V 差分電壓和共模電壓的浮置信號測量。